THORLABS光纖端面干涉儀GL16

    產品介紹

    GL16光纖端面幾何形狀測量儀器使用非常簡單,能夠測量單芯和多芯接頭的端面幾何形狀,并對其成像。它采用非接觸式白光掃描干涉技術(SWLI),能夠提供高準確度、高重復性和高可靠性的光纖接頭測試,尤其適合根據IEC或Telcordia標準進行的合格/不合格測試。系統既可以通過觸摸屏進行本地控制,又可以通過基于瀏覽器的應用程序實施遠程操作,易于集成到生產車間。

    所有系統組件完全集成在封閉的外殼中。寬帶寬570 nm LED光源配合邁克爾遜干涉物鏡使用,測量間隔高度變化高達35 μm的相移。壓電位移臺相對于接頭移動干涉物鏡,并使用高分辨率相機收集所產生的干涉圖案。然后生成接頭表面的3D高度圖,并利用2.2 µm的橫向分辨率和1.1 nm的高度分辨率計算光纖幾何形狀參數。白光干涉法還能夠表征凹陷或突出的光纖,而這一點在使用單色干涉儀時可能會被忽略。

    附帶的GL16M4 MT型安裝夾具有助于實現一次8秒測量12芯每行的插芯中max.72根光纖。換出附帶的夾具,GL16還可測量其他光纖類型和接頭類型。請根據待測接頭類型和光纖數量在下方選擇合適的安裝組件。

    性能特點

    • 3D干涉儀,用于測量端面幾何形狀
    • 非接觸式閉環壓電白光掃描干涉技術(SWLI)
    • 完全符合IEC和Telcordia等行業規范
    • 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)
    • NIST可追蹤標準,用于放大倍率和偏轉位移臺的校準
    • 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息,測量時間≤8 s(典型值)
    • 基于瀏覽器的應用程序,支持遠程訪問操作
    • 導出為.CSV格式的數據,SQL數據庫或掃描報告

    可選功能與配件

    技術參數

    產品尺寸

    規格參數

    產品應用


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